Микроволновый сканирующий микроскоп

Микроэлектроника развивается бурными темпами. Однако, на сегодняшний день ощущается некоторая нехватка неразрушающих бесконтактных методов диагностики. Одним из таких методов является метод микроволновой микроскопии. Его преимуществами, кроме описанных, является возможность объемной качественной и количественной диагностики образца. Комплекс разработок студенческого конструкторского бюро физического факультета в области микроволновой микроскопии позволяют создать микроволновый микроскоп для диагностики качества заготовок пластин для фотоэлектрических преобразователей.
Основное предназначение – качественный и количественный объемный анализ материалов (диэлектриков, полупроводников, проводников, сверхпроводников).
Области применения: микроэлектронная промышленность, исследовательские лаборатории.

Технические параметры:
Потребляемая мощность: до 1 Вт.
Срок службы: более 200 000 часов.
Подключение к персональному компьютеру: COM, LPT, USB, радиоинтерфейс, мобильным устройствам (коммуникаторы, смартфоны).
Вес: до 2 кг.

Особенности:

• Применение микроконтроллерного управления.
• Автоматическое определение типа материала.
• Уникальный СВЧ метод позволяет проводить измерения экспрессно – в реальном масштабе времени
• Оптимальное соотношение цена\качество

Варианты конструкций:

• Программное обеспечение персонального компьютера
• Возможность вывода информации на мобильные устройства (коммуникатор, смартфон)